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微晶玻璃的SEM,一般要看析晶区域和晶粒的形状、大小及分布区域性等微观形貌特征,对于感兴趣的晶粒,可以采用EDS点扫描来分析其元素组成,确切的相组成还要结合XRD分析或者TEM的选区电子衍射分析。楼主如果基体必须是不导电玻璃,如不能喷金,可以喷碳,这可以消除荷电问题,不妨碍形貌观察。如果不能喷涂导电膜,就得升级您使用的仪器:使用具有更高的低电压性能扫描电镜,玻璃水平放置,低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件,或者玻璃片大角度倾斜消除荷电,提高加速电压获得更好的分辨率;可以选择低真空观察模式。
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