由于微塑料尺寸较小,我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一,元素分布均匀,无明显微塑料的信息,多次尝试未果,所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析,难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。
eds不是表面技术,和sem形貌信号源完全不同,当然没可比性,eds纵向分析深度至少也是微米级。扫描电镜的能谱分析就是分析的表面附近一两个微米以内范围的成分。这是因为电子束的能量有限,不可能打到厚度较深的区域。sem电子束的穿透深度是微米级的,如果你样品表面只有几纳米,建议用其他表征方法。sem穿透深度和你用的加速电压有关系,电压小穿透浅,你可以试试用5千伏特。
进行元素分析的信号主要是作用区发射的元素特征X射线,俄歇电子,阴极荧光,背散射电子等,特征能量损失电子。
SEM
常常使用:EDS,WDS
分光特征X射线;
俄歇电子需要超高真空环境,往往以俄歇电子谱仪的商品出现,也可归入扫描电镜范畴;背散射电子携带微区不同平均原子序数区域的反差信息,定性的了解原子序数高低或者材料密度分布;阴极荧光光谱范围在紫外,可见或红外波段所发射的电磁辐射,这种现象可以被用来检测矿物,半导体和生物样品中痕量元素(ppm级别,用X射线波谱WDS或者X射线能谱EDS都是不能实现的)的分布。
TEM常使用特征x射线和特征能量损失电子,
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