扫描电镜样品摔了

关键看你的实验目的是什么.

如果A样品和B样品是两个单独的实验,不用做横向对比,那么用不同的制样方法没有什么问题.

如果两个样品在合成制备过程中用了不用的方法或者条件,要用SEM做横向比对,制备的结果.那么,最好用同样的制样方法.否则,即使你在SEM下看到了明显不同的结果,你也难以判断是由于SEM制样方法不同造成的,还是,由于合成制备方法不同造成的影响.

如果超声是你样品合成制备过程的一部分,因而,有必要比较超声前和超声后样品的区别.那么,对于两个平行样品,一个样品经过超声处理,一个样品直接干燥,是很合理的实验安排.可以探讨超声过程（工艺）对最终结果的影响.

总之,对于SEM仪器或者这个表征手段来说,超声或者不超声,做出来的样品,是可以放到一起观察的.问题的关键在于你想知道什么.

二次电子信号来自于样品表面层5～l0nm,电子与样品原子的核外电子作用,一部分能量转移到原子,导致原子中的一个电子被逐出而产生二次电子.二次电子信号强弱与样品表面粗糙度有关,可利用二次电子成像的模式-SEI模式观察样品表面形貌.电子与样品原子的原子核发生弹性碰撞,电子方向发生改变,但无能量损失,这样的电子叫背散射电子.背散射电子信号强弱与样品原子的原子量有关,可利用背散射电子成像的模式-BSE模式观察样品表面元素分布情况.

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