EDS与EDX有什么区别?

EDS与EDX有什么区别?,第1张

EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪,也有人叫EDXRF。

EDS是能谱仪。

XRF是比EDS更准确的定量。

XRF的应用

a) X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已完全成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。

b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量。

c) 根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

优点:

a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

缺点:

a)难于作绝对分析,故定量分析需要标样。

b)对轻元素的灵敏度要低一些。

c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

其实是一样的,但是美国人一般叫EDS,英国人一般叫EDX,国内叫EDS的多。

解释:

abbr. 扫描式电子显微镜(scanning electron microscope);标准电子组件(Standard Electronic Modules)

n. (Sem)(泰、柬)森(人名);(Sem)(西、挪)塞姆(人名)

读法:

英 [,es i: 'em]

用法:

SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜

SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析

TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院

近义词:

microscope

读法:

英 [ˈmaɪkrəskəʊp]  美 [ˈmaɪkrəskoʊp]

解释:

n. 显微镜

用法:

Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜

Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码

petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱  [光] 岩石显微镜


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