方法原理

方法原理,第1张

复电阻率(CR)法测得的频谱包含了由导电性引起的近场区电磁谱(SEM)和由电极化性引起的激电谱(SIP),两种谱在频带上占据不同的位置。可用数学物理模型Cole-Cole模型和Cole-Brown模型反演拟合分离,求取多个SEM和SIP谱参数[1,2]。

在复电阻率法中观测到的电磁场(SEM)主要是近区场,场的区间划分依据感应数p的大小进行[3,4]:

电法勘探成果文集

均匀半空间上偶极-偶极排列的电磁相位谱研究表明:当p<2时为近区场,p=2~7.6时为中区场,p>7.6为远区场。其中近区场只与距离(r)有关,中区场与距离(r)和频率(f)两个因子有关,远区场仅与频率(f)有关。电偶源的各类电磁法,大多选用远区场工作(如MT法等),只要改变频率就能改变探测深度。复电阻率(CR)法主要为近区场,只有改变极距才能改变探测深度,是一种几何测深。由于近区场电磁谱(SEM)的强度大,并在频带上与SIP谱有部分重叠,在SIP法发展的前期一直把它作为干扰进行消除,SEM谱中包含的地下导电性变化的信息未被利用。通过对SEM谱进行的系统研究与开发,引入了多个重要的SEM参数———电磁电阻率ρω、相位极值比、视电磁充电率比,解决了近区场SEM谱的应用问题,并在实践中获得了较好的地质效果。

正演计算研究和实际应用表明:SEM参数具有明确的物理意义和量纲,与地下导电性结构的量值有关,对导电性目标体的异常响应灵敏度比视几何电阻率(ρS)高2~4倍,几何分辨率小于四分之一偶极距。由于近场区电磁参数主要与极距有关,用它们构成的拟断面是几何测深断面,便于与SIP参数所构成的几何测深断面对比;SEM参数的探测深度趋近于r/2,且受地表导电性不均匀的影响很小。

sem电机和超导电机不一样,超导电机是依赖于使用一个或多个超导元件的机电系统。由于超导体没有直流电阻,因此它们通常具有更高的效率。在超导电机中最重要的最重要参数是产生非常高的磁场,这在常规电机中是不可能的。这导致电机体积xxx减小。这意味着功率密度将xxx提高。但是,由于在一定的超导转变温度下,超导体的电阻仅为零,因此T c比室温低数百度, 需要低温。


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