sem扫描电镜是测什么的

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污 染物的化学元素组成。

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

区别：

SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。

TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

SEM一般用在大学里实验室和一些研究机构，对样品的要求是：样品要具有导电性。工厂里很少用，因为它的价格很贵

在钢铁方面的应用主要有：断口分析，就是观察断口形貌，根据形貌分析问题。表面观察，一般用于金相的表面（在大学里应该都做过这方面的实验），由于其分辨率较高，得的图片很好。还有可用动态观察，比如在钢的变形过程中观察M氏体断裂等等

SEM一般是在开发新产品时，测试新产品中使用的，旧的流水线上一般不用（谁愿意费那钱），我们给酒钢做过这类的东西，所以知道一点。至于能和其它什么仪器配合使用，这要看你要什么，做哪方面的，很多单独使用的仪器也可以和SEM配合使的

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