sem的eds和mapping什么区别

sem的eds和mapping什么区别,第1张

就定量来说,SEM点分析比线分析和面分析更准确,扫描的方式不同,线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况(线分析是沿着某个界面的元素分布起伏,而面分析是看整个视场的元素分布情况),点分析可以基本定量分析元素。

SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称,两者组合使用,功能非常强大,既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析,在各类分析工作中被广泛运用。

EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定的数据的话,一个线扫就可以耗费半个小时。EDS mapping的分辨率不仅取决于束斑尺寸,由于收集时间比较长,样品漂移的影响更大,所以比eels mapping 差不少。

如果要分析材料微区成分元素种类与含量,往往有多种方法,打能谱就是我们最常用的手段。

能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点,最重要的是其价格相比于高大上的电镜来说更为低廉,因此能谱也成为了目前电镜的标配。

能谱EDS的采样深度大约为1 μm,可对试样微区内Be~U范围内的元素进行分析。根据扫描方式的不同可分为点扫、线扫和面扫。点扫和线扫都是对样品的某一位置进行微区元素分析,两者区别是扫描能谱的面积大小不一。点扫可以给出扫描元素的相对含量,测试准确性较高,常用于显微结构的成分分析。面扫是对样品某一区域的元素分布进行观察。

EDS点扫

EDS 点分析是将电子束固定于样品中某一点上,进行定性或者定量的分析。如图1所示是能谱点扫给出的峰型图,每一种元素在图中会出现一种峰,由此可以看出样品中所含有的元素,同时,也会相对应的给出如表1所示的元素相对含量表,表中数据展示了相对质量分数和相对原子分数及误差,误差越大表示元素的相对含量可信度越低。

如上图1 对样品的某一位置进行能谱点扫得到的元素图

表1样品的相对元素含量

EDS 线扫

EDS 线扫描分析是电子束沿一条线对样品进行扫描,能得到元素含量变化的线分布曲线。结合样品形貌像对照分析,能直观获得元素在不同区域的分布情况。图2可以看出,元素含量的差异与形貌结合可以分析样品结构上的差异。

图2对样品进行线扫的结果图

EDS 面扫

EDS 面扫描分析是电子束在样品表面扫描,试样表面的元素在屏幕上由亮度或彩色表现出来,常用来做定性分析。亮度越高,元素含量越高,结合形貌像常用于成分偏聚、相分布的研究中。从图3中可以看出元素分布的差异,结合形貌图对样品进行定性分析。


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