EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜
FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜
STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜
AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜
XRD:X-ray diffractionX射线衍射
XPS:X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱
FT-IR:Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪
UV-VISQ:Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱
edx:energydispersive
x-ray
fluoresence
spectrometer
能量色散x射线荧光光谱仪
eds:energy
dispersive
spectrometer
能量色散谱仪
edx是荧光分析,eds是能谱分析,后者不是x射线能谱仪,如果想准确定量,可以考虑化学分析,xps,或者俄歇分析(aes),xps和aes对表面含量较为适合。
要看你应用在哪一方面.如做表面元素分析的话建义你有eds或xps.
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