扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

你说的应该是那个诺贝尔化学奖的超分辨荧光显微镜，在远场显微成像范畴，大大超越光学衍射极限，这些显微镜应用都以荧光染色为基础（只有可染色的物质才可以观察，矿物金属啥的是实现不了高分辨的）。 一个是以激光共聚焦显微镜为基础，采用双激光束，确保像素点一部分受激辐射耗尽，无法发光，只有一小部分发光，这样降低了发光像素尺寸，通过逐点扫描可获得纳米尺度级别微小反差；另一个是采用普通显微镜，但染色基团有光开关功能，这样染色是个十分了得的技术问题，而且后期的图像是要经过软件处理才可以提高分辨率。

据说对生命科学，研究活体在分子水平的物理化学反应，意义非常重大。

而扫描电镜电镜需要高真空环境，特殊样品制备后，看的其实是尸体！而不是活体。

你说的超透镜另外一种理解为近场光学的镜头，采用超透镜来放大一个可见光波长范围内的隐失场波动，从而确定超微结构。

总之光学显微镜基本可以保证在大气环境中进行活体检测！

放大率

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

场深

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

作用体积

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

作用体积的厚度因信号的不同而不同：

欧革电子：0.5～2纳米。

次级电子：5λ，对于导体，λ=1纳米；对于绝缘体，λ=10纳米。

背散射电子：10倍于次级电子。

特征X射线：微米级。

X射线连续谱：略大于特征X射线，也在微米级。

工作距离

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。

如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。

通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

成象

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

表面分析

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

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