【求助】哪转让二手电镜(扫描、透射)

【求助】哪转让二手电镜(扫描、透射),第1张

baoyanl(站内联系TA)二手的你敢用吗?这样精密件,非常容易坏,你修的钱就够买新了。

建议买中科院的KYKY,我们这用了二十多年了,都过使用期了,还修修凑合用。

价钱低,当然性能确实不如小鬼子的。baoyanl(站内联系TA)还有一个推荐,据说去年有一次SEM会议,推出了一种新的SEM产品,大小也就一两立方米,非常小,两三千倍没问题。非常适合个人使用。

还有一个推荐,据说去年有一次SEM会议,推出了一种新的SEM产品,大小也就一两立方米,非常小,两三千倍没问题。非常适合个人使用。

二手的你敢用吗?这样精密件,非常容易坏,你修的钱就够买新了。

建议买中科院的KYKY,我们这用了二十多年了,都过使用期了,还修修凑合用。

一般还是不要买二手的好,因为设备的维护需要的钱会更多,二是搬一个地方极有可能会出现各种问题,像这种设备尽量不要搬动了。 大概问了一下,也要60万左右吧洛阳学子(站内联系TA)还使买新的吧,旧的维护费用太高了,算下来便宜不了多少

还使买新的吧,旧的维护费用太高了,算下来便宜不了多少

我查了一下,中科科仪的SEM也是好多问题,有点担心质量,进口的又太贵买不起。只是一个很难选择的问题。 有多少钱办多少事,除非你不想买。这不是个难以选择的问题,就是个简单问题。钱多,当然买鬼子的,钱少,你也只能买国产的。没钱,不买。

不管如何总比买二手的强。这东西还有人敢买二手的???hand1980(站内联系TA)二手的问题确实比较多,电镜拆装一次的费用就比较贵,而且很多老电镜配件都没有了,原来我们单位有台很老的扫描电镜送人都没人要,还不够一次拆装的费用,而且这种老电镜据说已经没有人会修了,工程师都退休了,你们要看高倍如果要买就买个透射吧就扫描一般1万倍能看清就不错了,日立H800,日本电子100CX国内比较多,都是比较经典的电镜应该也不贵,还有配件yangweiliu(站内联系TA)美国的二手TEM,分辨率在1nm以下的价格和corolla差不多,分辨率在0.5nm以下的价格和camry差不多。国内的二手TEM的行情不太清楚,不过你可以作为参考。

日立S5500 买这样这种型号的新的大概要多少钱呀?我问过日立S5000,S-3400N

1、放大率:

与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以,SEM中,透镜与放大率无关。

2、场深:

在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积:

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离:

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象:

次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。

6、表面分析:

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法:

如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料:

SEM扫描电镜图的分析方法:

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料:百度百科-扫描电子显微镜

扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。


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