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观察纳米材料。扫描电镜(SEM)电子显微镜是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。直接观察原始表面、观察纳米材料、材料断口的分析等。扫描电镜图像简单,景深大,图像立体感强,基本上看到的就是sample的原貌,如图就是一束纳米线,很直观,不用复杂的衬度理论。而透射电镜照片就没那么简单了,要想或得较准确的解释,则需对透射电镜的各种衬度,如质厚衬度、衍射衬度等有所了解。
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