镀导电膜对于sem有效分析不导电样品有不可缺少
但是导电膜也有可能由于本身的特点造成图像的扭曲甚至假象
一般导电膜无外乎三种材料:Au,Pt,C
专家建议,需要高分辨的情况下,尽量使用Pt或者Pt-Pd合金膜
因为它对图像的扭曲最小。
朋友,这是三类原理不同的显微镜。金相显微镜是属于光学显微镜,主要用于观察材料表面的金相组织,分辨率受限于半波长,只有0.2um,无法得到更高分辨率的图像。
扫描电镜即SEM,属于第二代显微镜,是采用电子轰击样品表面进行成像,得到样品表面二维的形貌像,分辨率可以达到nm级别;只是它要求样品必须为导电样品,所以对于非导电样品需要进行前期的制样处理:喷金、银或碳等。
你说的描隧道电镜应该是扫描隧道显微镜,它和原子力显微镜统称为扫描探针显微镜,属于第三类显微镜,原理均为一根原子线度的极细的针尖作用在样品表面,通过检测针尖与样品表面之间的作用力来得到样品表面的形貌像,所不同的是扫描隧道显微镜只能检测导电样品,故应用范围受限(但分辨率最高:横向0.1nm,纵向0.01nm),而原子力显微镜则对样品无此要求,所以为最常用的一类扫描探针显微镜,分辨率为:横向:0.2nm,纵向:0.1nm;与电镜不同,这一类显微镜得到的是三维的图像。除此之外,扫描探针显微镜是一个大的家族,还包括:磁力显微镜、静电力显微镜、声学显微镜等二十多种。
希望可以帮到你。
金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片上是暗的未被腐蚀的晶粒内部发生的是镜面反射,在照片上是亮的.SEM分二次电子像和背散射电子像:二次电子像必须腐蚀样品,不腐蚀的话什么都看不到.照完金相的样品可以直接照二次电子,但照片的情况有所不同,<1000倍时,二次电子像观察到的晶界是亮的,因为晶界被腐蚀掉,样品在晶界出现棱角,二次电子的产额大,因此是量的,晶界内部反而暗.如果倍数放到足够大,能够看清晶界处的腐蚀程度和凹凸情况背散射电子像是分析样品的成分分布,最好不要腐蚀样品,因为腐蚀样品会把第二相腐蚀掉.欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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