Si线可能有导电性,但也需要用导电胶带固定。用帖有双面导电胶带的样品杯按压一下硅片,把样品转移到样品杯上。
检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜,硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料,是半导体产业链基础性的一环。(1)对清洗过后的溶液,进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试(理论粒径为50nm和200nm)最好都测试一下,二者可能尺寸上面有区别。
(2)银粉溶液制备成功以后,没有立即表征,遮光静置几天后,再做电镜表征,是否有影响
只要排除对于样品无影响,可以。
(3)是否需要干燥以后,取出粉末,再用乙醇溶解,取用这个溶液制样
可以滴在导电硅片上。也可以做粉末置于导电胶上。
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