超细银粉sem制样怎么做

超细银粉sem制样怎么做,第1张

(1)对清洗过后的溶液,进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试(理论粒径为50nm和200nm)

最好都测试一下,二者可能尺寸上面有区别。

(2)银粉溶液制备成功以后,没有立即表征,遮光静置几天后,再做电镜表征,是否有影响

只要排除对于样品无影响,可以。

(3)是否需要干燥以后,取出粉末,再用乙醇溶解,取用这个溶液制样

可以滴在导电硅片上。也可以做粉末置于导电胶上。

扫描电镜主要看形貌,你如果抛光了,消除形貌你要看什么?

当需要精确研究材料中化学成分分布时,必须尽可能消除形貌影响,进行抛光。如需要研究材料晶体类型分布和取向分布时,需要更精细抛光,机械抛光后,还要消除机械应力,采用电解抛光或者离子抛光。


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/386034.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-05-16
下一篇2023-05-16

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存