不喷也行,看得还行,GO和RGO的导电性够了神魔流转(站内联系TA)GO 和石墨烯做SEM都是不必要的,AFM和TEM有用,但SEM是真心没用,除了做负载或特定形貌时可能需要观察下。jiji188(站内联系TA)不喷也行,我们实验室一般都是滴在ITO上直接照SEM的,效果还行。梦日边(站内联系TA)我做的表征时喷金了,看了还挺清楚,没试过不喷金zmcai(站内联系TA)你的SEM是不是有问题,我们一般是放在硅片上,硅片是半导体,有导电能里,但是你用二氧化硅行么?我们一般都是直接涂在做SEM的硅片上拍电极,不用喷金也可以。如果你喷金了,导电性会好些,但是如果没控制好,可能会看到大颗粒的金,也是会影响表征的。zhouzhixin(站内联系TA)不需要喷金的,直接滴到硅片上的,这个主要还得看你的石墨烯粒径大小,太小的话看不出来什么有用的信息fluoro(站内联系TA)我们表征石墨都不喷,效果还挺清晰的苏惜不若(站内联系TA)不用喷金的,导电性很好的。yjiaahedu(站内联系TA)SEM可以表征,也不需要蒸金,若观察到褶皱的话,说明层数较少,但是无法确定是石墨烯还是石墨片,需要HRTEM和拉曼光谱(波数50-3000):Dyy秋水(站内联系TA)哈哈,不用喷金,只要你的基底能够导电就可以了,如果在二氧化硅基底上,SEM的图是黑色的,不过放大以后还是能看到一些细节的威威号(站内联系TA)不用喷金,把石墨烯用水分散,足够稀(几乎看不到颜色),超声。
薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息,推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力,从而大幅度降低对样本和针尖的损伤。如此可延长各针尖的使用寿命,使扫描更加低成本和便捷,并通过提高空间分辨率和信噪比得到更为精确的结果。因此,利用NX-Hivac进行的高真空扫描扩散电阻显微术测量可谓是故障分析工程师增加其吞吐量、减少成本和提高准确性的明智选择。XRD、 SEM、AFD三者的区别:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2、 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3、 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
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采用低真空模式或环境扫描模式(这两种模式一般都是要通入水蒸气,保持低真空度)。只不过清晰度会差一些,放大倍率倒是不会降低太多,一般1万或3万左右的放大倍数都没问题,主要是与喷金比较,会有些模糊,另外样品非常容易被电子束打的变形,留下烙印。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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