硅片用光面还是磨面

用抛光面。

抛光面比较整洁，除去了大部分的缺陷（切片时造成的），但是电阻还真没有量过，在没有热处理之前是应该差不多的吧，抛光对集成电路而言是远远不够的，只是粗加工。作为研究用当做单晶称底是很不错的选择。

背面

在米粒大的硅片上，已能集成16万个晶体管，这是科学技术进步的又一个里程碑。

地壳中含量达25.8%的硅元素，为单晶硅的生产提供了取之不尽的源泉。由于硅元素是地壳中储量最丰富的元素之一，对太阳能电池这样注定要进入大规模市场（mass market）的产品而言，储量的优势也是硅成为光伏主要材料的原因之一。

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料，是半导体产业链基础性的一环。

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