区别应该是 SEM和TEM和AFM,越来越高级,放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的,xrd是测试晶体结构的,可以测试晶体结构的,对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点,可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团;而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关,可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成
FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等
Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。
CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压
EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息
BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。
XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱
luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品,粒径大小可以直接看出来0523gy(站内联系TA)这个问题我也想问,继续关注。。。zhoufudong(站内联系TA)最近做了一个SEM,也不会分析,求助各位大侠绿茶咖啡(站内联系TA)颗粒形状粒径大小,可以结合XRD分析负载的话,物质的分布附着情况jason168(站内联系TA)呵呵,先补一下基本知识吧,当然了,是对你要做的东西的基本知识。你连做SEM想看什么都不知道,说明你对你的样品也不是很了解,这样子写的文章肯定也不咋的了。liuruiphd(站内联系TA)可以结合能谱分析相关元素的含量njucaijun(站内联系TA)最直观的是形貌和大小,还有粒子间或所关心的体系间的关系,比如分散状况,结合状况等。结合能谱可以知道元素信息,做面扫可以知道元素的分布图,结合扫描照片能得到一些有意思的结论。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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