嘿嘿 这位同学应该刚刚接触到这个sem吧!简单的说吧——由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号,而若
样品不导电怎或造成样品
表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging)。楼主如果基体必须是不导电玻璃,如不能喷金,可以喷碳,这可以消除荷电问题,不妨碍
形貌观察。如果不能喷涂导电膜,就得升级您使用的仪器:使用具有更高的低电压性能扫描电镜,玻璃水平放置,低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件,或者玻璃片大角度倾斜消除荷电,提高加速电压获得更好的分辨率;可以选择低真空观察模式。可以,做SEM时,电子射入材料时是散射开的,纵向截面类似于一个葫芦形,所以它探测到的反射能谱不是最表面的材料,如果你入射能量大,甚至可以深入材料几个微米的深度。所以SEM能谱分析得出的不是最表面那几层原子,还要更深一些,是一个葫芦状微观三维区域的原子能谱。
镀金膜导电可以让表面形貌的图像更清晰,但是仪器会自动将能谱里的金峰标出,不会影响其他元素的判断。
文献里看不到金峰,可能是由于作者只取了对自己有用的那一段能谱进行说明,而没有打出全部能谱
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