用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?

用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?,第1张

想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.

钢基底上镀的金属膜的厚度可以用台阶仪测量,也可以用SEM截面照片测量,硬度可以用维氏显微硬度计和纳米压入仪测量,结合力可以用划痕仪测量,摩擦系数用摩擦磨损试验机测试。

玻璃上镀的Cr膜的厚度也可以用台阶仪或SEM截面照片测量,硬度只能用纳米压入仪测量,结合力和摩擦系数最好用纳米压入仪设备带的附件(微划痕仪与微磨损仪)测量。


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