用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?小夏•2023-6-3•服务器知识•阅读71想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.钢基底上镀的金属膜的厚度可以用台阶仪测量,也可以用SEM截面照片测量,硬度可以用维氏显微硬度计和纳米压入仪测量,结合力可以用划痕仪测量,摩擦系数用摩擦磨损试验机测试。玻璃上镀的Cr膜的厚度也可以用台阶仪或SEM截面照片测量,硬度只能用纳米压入仪测量,结合力和摩擦系数最好用纳米压入仪设备带的附件(微划痕仪与微磨损仪)测量。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/457783.html可以用测量厚度镀层截面赞 (0)打赏 微信扫一扫 支付宝扫一扫 小夏管理员组00 生成海报 学了sem有什么用上一篇 2023-06-03目前网络营销行业哪个城市前景最好? 下一篇2023-06-03 发表评论 请登录后评论... 登录后才能评论 提交评论列表(0条)
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