献峰科技指出:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。
第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
希 望 采 纳 不 足 可 追 问
不同温度下晶粒生长情况不同的,一般要查看烧结后晶粒状况的话,要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况,您可以用不同温度对样品进行热处理,然后分别送样,这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。不过这样做很费钱。可以考虑做差热。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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