光学显微镜中常见的最大放大倍数为1000倍,因为衍射极限的存在,倍数太大并无意义,1600倍的倒是也有,一般可通过物镜油浸法增大数值孔径得到。
TEM是透射电子显微镜的英文缩写,而SEM是扫描电子显微镜的英文缩写。它们都是分析高速电子流与样品作用之后的有关信息。由于收取的信息不同,观测的结果也就有较大差异。
TEM观察的是样品透射和衍射电子的信息,因此它主要用于研究样品的形貌、晶体缺陷及超显微结构等特征,也可以测定晶体的结构参数和进行晶体的定向。
TEM具有很高的分辨率(达0.1nm)和放大倍数(100~200万倍)。
SEM主要利用二次电子进行高分辨的表面微形貌观察。其分辨率高(可达5nm),放大倍数为10~30万倍。如果它们配上能谱仪,均能够进行定性或半定量的成分分析。
只知道标尺无法知道放大倍数。
拿尺子量一下标尺,用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。
例如:尺子量出标尺长10mm,标尺上标称10um,那么放大倍数就是10mm/10um就是1000倍。
扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以,SEM中,透镜与放大率无关。
工作原理:
SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。
图像为立体形象,反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。
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