sem做能谱最低多少可以扫出来

最低含量为0.X%。

因为我们进行测量的物质都是定量的，最低含量为0.X%。EDS 点分析是将电子束固定于样品中某一点上，进行定性或者定量的分析。每一种元素在图中会出现一种峰，由此可以看出样品中所含有的元素，同时展示了相对质量分数和相对原子分数及误差，误差越大表示元素的相对含量可信度越低。

B打不出来原因有以下几点：

1、能谱峰显示的一般是质量百分比，B的原子序数很靠前，与其他相同数量的元素相比，B的峰会小很多，能谱理论检测限在0.1%wt，因此可能识别不到；

2、能谱检测结果经常会有C峰出现，C峰和B峰很接近，可能把B峰掩盖；

3、因此，B是否含有需要手动加入进行确认，这个需要慢慢摸索经验。

可以，做SEM时，电子射入材料时是散射开的，纵向截面类似于一个葫芦形，所以它探测到的反射能谱不是最表面的材料，如果你入射能量大，甚至可以深入材料几个微米的深度。所以SEM能谱分析得出的不是最表面那几层原子，还要更深一些，是一个葫芦状微观三维区域的原子能谱。

镀金膜导电可以让表面形貌的图像更清晰，但是仪器会自动将能谱里的金峰标出，不会影响其他元素的判断。

文献里看不到金峰，可能是由于作者只取了对自己有用的那一段能谱进行说明，而没有打出全部能谱

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