sem扫描电镜可以扫碳吗

可以。SEM 中有三个扫描圈：物镜极靴内的扫描线圈是用于电子探针在样品表面扫描；观察和照相用显象管中的扫描线圈是用于控制阴极摄像管（CRT）中的电子束以便在荧光平上作同步扫描。SEM进行形貌分析时都采用光栅扫描方式。SEM 的倍率放大是通过改变镜筒中扫描电圈电流大小来控制的，这样就可以改变样品扫描区域大小，进而改变倍数。

制备多孔碳材料过程中影响其性能的因素：本文采用扫描电镜（SEM）、X射线光电子能谱（XPS）、激光拉曼光谱（LRS）、X射线衍射（XRD）、傅立叶变换红外光谱（FTIR）以及力学性能测试等技术，考察了不同制备工艺对碳纤维结构及性能的影响。

界面对碳纤维复合材料性能的发挥起着非常重要的作用，复合材料通过界面传递载荷，可以使碳纤维与基体形成一个有效发挥综合性能的整体。在界面的研究中，提高其结合强度是改善碳纤维复合材料力学性能的关键。

内容简介

结合编著者多年在此领域的研究经验、技术积累以及国内外的最新进展，就活性炭，介孔炭，炭分子筛，球形活性炭，核壳结构纳米炭，三维有序大孔炭,以及活性炭纤维的制备、性能、微观结构调控、吸附理论以及其在能源、环境等领域的应用进行了较详细的论述，同时对活性炭纤维与高级氧化技术协同作用和炭基吸附材料的应用前景进行了论述。

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