sem扫描的时候会出现元素分析吗

sem扫描的时候会出现元素分析吗,第1张

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员,建议先系统学习理论知识,再找专业的仪器工程师培训.如果是学生,要使用电镜,从安全角度考虑,1、2、3几项通常是值机人员完成的.我可以简单的向你介绍一下:1、主要是电源,只要能正常开机,一般无问题;2、加高压前一般要达到额定真空,否则气体电离度大、损伤电子枪,但是电镜软件一般都已经设置好,不到工作真空,根本加不上去高压,所以只要能够加高压,也无其他特别的问题;做完电镜关闭高压,等30秒以上,待灯丝冷却后再放气为宜,主要也是为了保护电子枪;3、样品台有它的额定移动距离,包括平面方向和上下方向,平面方向移动到极限时会有报警提示,看到提示往回移动即可.高度方向也如此,但是要注意向上移动时,要缓慢,要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴,损坏设备;4,电子束与试样作用,可激发出多种信号,如二次电子信号(用于形貌观察),背散射电子信号(用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析)、特征X射线(用于内部元素分析)、阴极荧光(用于发光材料研究),这些信号已经被有效的加以利用,这是一门独立的学科,若需要详细了解,你需要系统地学习一下.

进行元素分析的信号主要是作用区发射的元素特征X射线,俄歇电子,

阴极荧光,背散射电子等,特征能量损失电子。

SEM 常常使用:EDS,WDS 分光特征X射线; 俄歇电子需要超高真空环境,往往以俄歇电子谱仪的商品出现,也可归入扫描电镜范畴;背散射电子携带微区不同平均原子序数区域的反差信息,定性的了解原子序数高低或者材料密度分布;阴极荧光光谱范围在紫外,可见或红外波段所发射的电磁辐射,这种现象可以被用来检测矿物,半导体和生物样品中痕量元素(ppm级别,用X射线波谱WDS或者X射线能谱EDS都是不能实现的)的分布。

TEM常使用特征x射线和特征能量损失电子,

矿物元素检测:金属矿检测、岩石矿物分析、非金属矿检测、稀有矿石检测、铁矿石检测。

金属材料元素检测:钢材元素检测、金属元素检测、稀土微量元素检测、合金材料检测、金属镀层元素检测。

其它元素检测:化肥氮磷钾元素含量检测、无机材料元素分析、土壤重金属检测、水质元素离子检测。

斯坦德检测总部位于青岛,在华中、华北、华东、华南、西北、东北、西南地区建设有多个专业实验基地和数十家分支机构。斯坦德拥有检验检测机构资质认定(CMA)资质并且实验室通过中国合格评定国家认可委员会(CANS)认可、获得武器装备质量管理体系认证。


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/93352.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-03-07
下一篇2023-03-07

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存