氧化锌陶瓷对其表面做SEM，需要腐蚀对于氧化锌的光腐蚀,很少看到详细原理,一般我们可以通过掺杂其他物质或者引入其它氧化－还原电解质进行表面保护来解决.我觉得主要是氧化锌的化学性质不稳定,紫外光照射后,形成的光生电子-空穴具有很强的氧化还原能

具体看看你的样品有什么特征了，要能很好的分散在溶剂中，如果太黏，制样的效果不好；还有就是如果忖度太低，需要染色，这样效果要好点。制样：一般附在铜网上，制成液体，滴在铜网上，干燥就行了聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。纳

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.你好，大

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微加工.SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

扫描电镜检测是材料微观形貌观察必不可少的研究手段，但水凝胶材料由于含有大量水分或有机溶剂，无法直接放入电镜中观察。电镜工作需要维持高真空环境，而水分在真空中会迅速挥发，导致图像异常甚至电镜故障。因此，对于水凝胶样品，通常需要进行冷冻干燥处理

1、二次电子探测器：材料元素原子序数越大，激发出的信号越少，信号强度越低，表现出电镜图像越暗2、背散射电子探测器：材料元素原子序数越大，激发出的信号强度越高，表现出电镜图像越亮3、能谱仪：材料不同元素激发出特征X射线，收集时间越长，累积的强

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.sem

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

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聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有