镀膜的作用是增加透射，减弱反射。眼镜片虽然是质量不错的光学玻璃，或者有机玻璃，但是仍然有部分光被镜片反射了，这样就造成了，从镜片内视物，不如直接视物来的明亮。为了提高投射，可以在镜片表面镀一层膜，使光在膜的上下表面分别发生反射，如果膜的厚度

第一，样品导电，则就对比度问题；第二，样品不导电，或样品过多，或喷金量不够，这时需要喷金时间需要加长，而且样品量最好肉眼略可见即可；第三，样品放在液态导电胶中。查看原帖&gt&gt由原子大小决定吧，SEM用的是隧穿效应，

就是衍射呀，对于优质层状材料，可通过低角度的晶面间距结合SEM看层间厚度。如果是200nm以下的类球状颗粒，还可以根据谢乐公式做具体尺寸。可以根据衍射峰算结晶度，可以根据掠入射算薄膜厚度等等。说白了所谓物理作用就是与被作用的物质晶格产生衍射

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

A,B输入阻抗无穷大,输出阻抗零.输出电位也取决于极性和连接方式.比如单正电源供电,正向输入端接12电位.反向输入零的时候,输出为正电源电位.在信号处理领域有一个基本定理，叫做海森伯格（Heisenberg）测不准原理。这个定理指出，对给

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

要是放大倍数要求不大的话，建议采用环境扫描电镜，那个在20000倍以下，成像效果挺好的。我的是喷金以后，用场发射电镜，效果也挺好的啊你是不是用手不小心抹掉了，二氧化硅薄膜很脆弱的你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品

半导体光催化活性与带隙宽度有一定关系，但是不是成正比。有些光催化剂是通过掺杂而增大带隙，也有的是通过掺杂而使带隙变窄，但光催化活性提高了。一般是通过掺杂使光催化剂的吸收边向长波方向移动，会增大光吸收率，从而提高光催化活性。总之，提高光催化

随材料的厚度发生变换。二硫化钨(ws2)禁带宽度随材料的厚度发生变换，单分子层的禁带宽度约2.0ev，块体材料的禁带宽度约1.3ev，二硫化钨的禁带宽度处在可见光能量范围内时，可用作光电导探测器和光催化材料。作为催化剂材料使用时，起到催化活

5分钟。sem扫描电镜喷金是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段，喷金处理需要5分钟，在材料科学研究中发挥了重要作用。为了获得更好的扫描电镜图像，扫描电镜有必要结合喷金仪（离子溅射仪）使用。你看看电子显微镜的测试原理，SEM本

这里面有几个问题：1、钢的整体的碳成分是多少并不表示任何一点的碳成分均是这个数字，钢里有贫碳相如铁素体，也有富碳相如渗碳体，打在不同的部位得数也不一样；2、碳是轻元素，成分测量的误差本来就较大；3、eds本身的精度不高，只做定性分析之用，不

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

作为电磁换能元件，天线在整个无线电通信系统中位置十分重要，质量好坏直接影响着收发信距离的远近和通联效果，可以说没有了天线也就没有了无线电通信。作为一款经典的定向天线，八木天线在HF、VHF以及UHF波段应用十分广泛，它全称为“八木／宇田天线

膜厚仪也叫涂层测厚仪，厚度测试仪，涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业等。FRU在被测量的薄膜上垂直照射可视光

在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

微波宽带相当于无线光纤宽带，主要通过无线设备接收宽带网络，实现快速的光纤上网。微波宽带的特点：传输距离远，根据不同的设备，可以十分方便的相互连接1~50Km的网络；施工周期短，天线支架准备好了之后，几乎1天就能够安装1套点对点链路，施工

金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片上是暗的未被腐蚀的晶粒内部发生的是镜面反射,在照片上是亮的.SEM分二次电子像和背散射电子像:二次电子像必须腐蚀样品,不腐蚀的话什么都看不到.照完金相的样品可以直接照二次电

这里面有几个问题：1、钢的整体的碳成分是多少并不表示任何一点的碳成分均是这个数字，钢里有贫碳相如铁素体，也有富碳相如渗碳体，打在不同的部位得数也不一样；2、碳是轻元素，成分测量的误差本来就较大；3、eds本身的精度不高，只做定性分析之用，不