干法氧化通常用来形成要求薄、界面能级和固定电荷密度低的薄膜。湿法氧化通常用来形成作为器件隔离用的比较厚的二氧化硅膜。干法氧化成膜速度慢于湿法。当SiO2膜较薄时，膜厚与时间成正比。SiO2膜变厚时，膜厚与时间的平方根成正比。因而，要形成较

扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份，只能测试材料表面，根据电压不同测试的厚度不同，且轻元素是测试不了的，不记得是Be还是B之前的元素了，反之从C开始都能测试到，准确性很差。这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。相信很多厂家都一直在为客诉里面的低

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答

在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求，但是仍然有一部分同学不太清楚，今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家！SEM测试样品要求如下：1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg

你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言，不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像，所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好，SEM可能

常用测厚仪有机械式测量、超声波测厚仪、磁式测厚仪、电容式测厚仪、涡流测厚仪、射线测厚仪、激光测厚仪等。那么这些测厚仪的优缺点是什么？下面小编就来简单的介绍一下测厚仪优缺点：1、机械式测量大部分机械式测厚仪都是接触式测量，其主要优点是操

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制

SEM抛光我想应该是要清洁一下表面，避免表面含有一些脏东西之类的，如果是要看组织，不仅最后不是抛光，而且做SEM之前还需要腐蚀，SEM的二次电子成像原理就是要求表面凹凸不平，如果抛光了的话就没办法看二次电子像了，只能用背散射看了SEM 固体

扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份，只能测试材料表面，根据电压不同测试的厚度不同，且轻元素是测试不了的，不记得是Be还是B之前的元素了，反之从C开始都能测试到，准确性很差。这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在

烧结试样的 SEM 分析采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成。首先将试样的新鲜断裂面在 IB-3 离子溅射渡膜仪中喷渡厚度约为 10 ～20 nm 的金，对结构致密的部分试样断裂面采用 40%浓度的氢氟酸 ( HF) 侵蚀

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就

要确定是否镀上一层sio2，首先要确定是否有sio2，可以通过X射线衍射仪（XRD）或者扫描电子显微镜（SEM）来检测。XRD可以检测出材料的晶体结构，以及晶体中各种元素的含量，可以确定是否有sio2。SEM可以检测出表面的结构，以及表面的

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是

你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。样品的制作只要你把样品粉末比较充分的分散，可以用去离子水，滴一滴就可以，样品制作的好坏关键就看分散性如何，不能太浓也不能太希可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就

如果高分子样品导电性很差，在做sem时表面电荷累积，使得画面发白，分辨率下降。这时候可以在表面蒸镀上一层很薄的金或者碳，提高材料的导电性。当然，碳和金层必须非常薄，不影响材料原有性质。想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电