扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶
请问SEM照片里都能看出什么有用信息
luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品，粒径大小可以直接看出来0523gy(站内联系TA)这个问题我也想问，继续关注。。。zhoufudong(站内联系TA)最近做了一个SEM，也不会分析，求助各位大侠绿茶咖啡(站内联系TA)
用SEM照片能进行粒度分析？
粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分
SEM分析时,没有出现S元素,而在XRD中出现CaSO4，为啥？ 请帮助说明原因，谢谢
SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将
请问SEM照片里都能看出什么有用信息
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二氧化铈纳米颗粒如何用SEM观察
没有什么可以不可以的。要看你想说明什么。可以将你的颗粒配置成乙醇或丙酮的悬浊液进行超声处理。然后将悬浊液滴到导电胶上。干燥或吹干后即可测量。要自己掌握悬浊液的浓度以得到理想的分散效果。这个可以做几个不同的浓度先试验下。luomuwuhen(
从SEM图中怎么看出是多晶还是单晶
看什么样品。绝大多数是看不出来。一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶
从SEM图中怎么看出是多晶还是单晶
看什么样品。绝大多数是看不出来。一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶
EDX 点扫，面扫和mapping这三者之间有什么差别
EDX 点扫,面扫和mapping这三者之间有什么差别？就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情
EDX 点扫，面扫和mapping这三者之间有什么差别
EDX 点扫,面扫和mapping这三者之间有什么差别？就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情
sem测试不同样品测试结果有啥不同
sem测试不同样品测试结果不同有：1、结构差异。主要体现在不同样品在电子束光路中的位置不同；2、焦深不同。电子束在穿过样品时,会和样品中的原子发生散射,样品上某一点同时穿过的电子方向不同。luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品
从SEM图中怎么看出是多晶还是单晶
看什么样品。绝大多数是看不出来。一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM
SEM图像上，一个粒子是不是一个晶体？
不是一个晶体，虽然5k倍下可以看到40nm的组织，但是还没有达到晶体的晶格常数水平，所以不是晶体组织。我们观察晶体组织一般是通过x射线衍射分析得到衍射花样，通过计算得出的，而不能直接观察到晶体。看到的这种粒子是这种材料的表面组织形貌luom
SEM图像上，一个粒子是不是一个晶体？
不是一个晶体，虽然5k倍下可以看到40nm的组织，但是还没有达到晶体的晶格常数水平，所以不是晶体组织。我们观察晶体组织一般是通过x射线衍射分析得到衍射花样，通过计算得出的，而不能直接观察到晶体。看到的这种粒子是这种材料的表面组织形貌luom
sem和xps的mapping区别
SEM表面形貌较好，XPS是做表面成分分析的。sem即时性高，准确流量，快速调整。XPS板具有致密的表层及闭孔结构内层。其导热系数大大低于同厚度的EPS，因此具有较EPS更好的保温隔热性能，由于内层的闭孔结构。因此它具有良好的抗湿性，在潮湿
哪位大侠可以解释一下，为什么SEM和TEM的图不一致呢？
这个差异有点大可能是制备扫描样品时，样品团聚造成的，而透射可能是样品分散可以做个对比实验，制备扫描样品时，也采用透射的方法，滴在玻璃片上或是硅片上，再看看形貌，来判断一下什么原因造成的形貌差异luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析
sem和xps的mapping区别
SEM表面形貌较好，XPS是做表面成分分析的。sem即时性高，准确流量，快速调整。XPS板具有致密的表层及闭孔结构内层。其导热系数大大低于同厚度的EPS，因此具有较EPS更好的保温隔热性能，由于内层的闭孔结构。因此它具有良好的抗湿性，在潮湿
