EDX 点扫，面扫和mapping这三者之间有什么差别

EDX 点扫,面扫和mapping这三者之间有什么差别？

就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情况），点分析可以基本定量分析元素。

luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品，粒径大小可以直接看出来0523gy(站内联系TA)这个问题我也想问，继续关注。。。zhoufudong(站内联系TA)最近做了一个SEM，也不会分析，求助各位大侠绿茶咖啡(站内联系TA)颗粒形状粒径大小，可以结合XRD分析负载的话，物质的分布附着情况jason168(站内联系TA)呵呵，先补一下基本知识吧，当然了，是对你要做的东西的基本知识。你连做SEM想看什么都不知道，说明你对你的样品也不是很了解，这样子写的文章肯定也不咋的了。liuruiphd(站内联系TA)可以结合能谱分析相关元素的含量njucaijun(站内联系TA)最直观的是形貌和大小，还有粒子间或所关心的体系间的关系，比如分散状况，结合状况等。结合能谱可以知道元素信息，做面扫可以知道元素的分布图，结合扫描照片能得到一些有意思的结论。

---