1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸,长度或宽度选择其一,然后测量出试样的实际长度或者宽度.放大率=图片距离实际距离2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数,首先要计算出试样中的晶粒数.晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍

sky ；air； heaven1、sky n. 天，天空〔辨析〕指广阔的天空或某一地区的上空，其复数形式 skies 主要用于描述天气或某处的天空情况。〔例证〕The sky was full of dark clouds.天空乌云密布。

sky ；air； heaven1、sky n. 天，天空〔辨析〕指广阔的天空或某一地区的上空，其复数形式 skies 主要用于描述天气或某处的天空情况。〔例证〕The sky was full of dark clouds.天空乌云密布。

SEM主要优势是观察粗糙的原始表面，一般无需对样品表面进行特殊处理，在微区属于无损分析。如果看金相，需要从形状形貌上来鉴别是什么相，肯定需要腐蚀，因为SEM成像，需要有确切的形貌存在，例如镜面抛光后，图像没有形貌反差，也就无从鉴定相。有时候

1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸,长度或宽度选择其一,然后测量出试样的实际长度或者宽度.放大率=图片距离实际距离2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数,首先要计算出试样中的晶粒数.晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍

微晶玻璃的SEM，一般要看析晶区域和晶粒的形状、大小及分布区域性等微观形貌特征，对于感兴趣的晶粒，可以采用EDS点扫描来分析其元素组成，确切的相组成还要结合XRD分析或者TEM的选区电子衍射分析。你的这个样品很可能是多级结构，因为做TEM要

一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面

一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面

1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸,长度或宽度选择其一,然后测量出试样的实际长度或者宽度.放大率=图片距离实际距离2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数,首先要计算出试样中的晶粒数.晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍

1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸,长度或宽度选择其一,然后测量出试样的实际长度或者宽度.放大率=图片距离实际距离2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数,首先要计算出试样中的晶粒数.晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍

看什么样品。绝大多数是看不出来。一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶

看什么样品。绝大多数是看不出来。一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。正态分布在高中阶段，一般是给出公式

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----

你没太说清楚照的是啥，什么尺度。如果是HRTEM高分辨的，你一个视野内可以看到好多晶粒的那种，你可以任意拉一条直线，固定长度，然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量，任意取三条线，取平均，就得到平均晶粒大小了。看

1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸,长度或宽度选择其一,然后测量出试样的实际长度或者宽度.放大率=图片距离实际距离2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数,首先要计算出试样中的晶粒数.晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍

你没太说清楚照的是啥，什么尺度。如果是HRTEM高分辨的，你一个视野内可以看到好多晶粒的那种，你可以任意拉一条直线，固定长度，然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量，任意取三条线，取平均，就得到平均晶粒大小了。看