一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面

用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布的方法：用ImageJ打开一幅图，然后选Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜单中的Analyze中选Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的长度。然

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晶粒度的测定方法有三种：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面积法是计算已

用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布的方法：用ImageJ打开一幅图，然后选Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜单中的Analyze中选Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的长度。然

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晶粒度的测定方法有三种：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面积法是计算已

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2

晶粒度的测定方法有三种：比较法、面积法、截点法。具体如下1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。2、面积法：面积法是计算已

你没太说清楚照的是啥，什么尺度。如果是HRTEM高分辨的，你一个视野内可以看到好多晶粒的那种，你可以任意拉一条直线，固定长度，然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量，任意取三条线，取平均，就得到平均晶粒大小了。K

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2