不知道你的纳米分布范围，一般激光粒度仪达不到几个纳米的地步，几十个纳米以上还是可以用激光粒度仪侧的。再小的尺度可以采用动态光散射的方法测定，这是国际上比较通用的方法。我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布，因为粒径分布是大

D50：一个样品的累计粒度分布百分数达到50%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径大于它的颗粒占50%，小于它的颗粒也占50%，D50也叫中位径或中值粒径。D50常用来表示粉体的平均粒度。D90：一个样品的累计粒度分布数达到90%时所对应的

D50：一个样品的累计粒度分布百分数达到50%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径大于它的颗粒占50%，小于它的颗粒也占50%，D50也叫中位径或中值粒径。D50常用来表示粉体的平均粒度。D90：一个样品的累计粒度分布数达到90%时所对应的

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

近年来，随着科技的进步和经济的飞速发展，资源在不断减少，有的甚至接近了枯竭的边缘，所以需要不断探求新材料，以满足可持续发展的要求。新型结构陶瓷材料氮为典型的耐高温、高硬度及高耐蚀材料〔1〕，如碳化硅、化硅等。在特种陶瓷制品生产过程中，成形是

什么样的电镜都不能直接观察水溶液内部的物质。您需要把物质从溶液中提取出来，然后观察，提取可以是蒸馏，也可以是使用TEM用的微栅网来捞纳米粒子。然后采用扫描电镜或者透射电镜观察。粒子的成分可以用能谱仪EDS来确认。银盐CTP版材物理显影过程及

什么样的电镜都不能直接观察水溶液内部的物质。您需要把物质从溶液中提取出来，然后观察，提取可以是蒸馏，也可以是使用TEM用的微栅网来捞纳米粒子。然后采用扫描电镜或者透射电镜观察。粒子的成分可以用能谱仪EDS来确认。银盐CTP版材物理显影过程及

一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。特点是可以测试1

胶体实际能叫做溶液胶体溶液并列都属于散系其本质区别面溶质（散质）粒径同胶体指粒径1-100纳米散质溶液于1纳米感觉这样的提问没有什么意义建议看看书，查查资料纳米粒子的粒径范围是1~100纳米直径之间。纳米粒子通常被定义为的颗粒物质是1个在

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

nanopowders(站内联系TA)激光粒度是一个统计数据，可能会是单颗粒和团聚体的表现，而电镜粒度一般都是统计单个颗粒，除非你的颗粒在溶液中的分散性能很好，形成类似于单分散的浆液，这样二者才会很接近，不然测试的激光粒度都要大于电镜粒度，

nanopowders(站内联系TA)激光粒度是一个统计数据，可能会是单颗粒和团聚体的表现，而电镜粒度一般都是统计单个颗粒，除非你的颗粒在溶液中的分散性能很好，形成类似于单分散的浆液，这样二者才会很接近，不然测试的激光粒度都要大于电镜粒度，

微波法合成的UiO-66低温储氢性能高于传统电加热法合成的材料，通过调整冰醋酸的添加顺序可以调节UiO-67的多孔性能和颗粒尺寸，微波法得到的UiO-67的CO2吸附性能与传统法得到的材料相当。用甲酸作为调制剂，在微波条件下，通过溶剂热法在

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

微波法合成的UiO-66低温储氢性能高于传统电加热法合成的材料，通过调整冰醋酸的添加顺序可以调节UiO-67的多孔性能和颗粒尺寸，微波法得到的UiO-67的CO2吸附性能与传统法得到的材料相当。用甲酸作为调制剂，在微波条件下，通过溶剂热法在

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小