测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子

没能清楚理解你想表达什么意思，是想在图片上的右下标出编号并写出放大倍数还是想在文档中标出。要是想在图片上添加标记的话，可以使用PS或者这种简单的直接用画图工具就可以解决。如果是想在文档中标的话，可以通过特殊排版实现。若确定其他格式都不变了的

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背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍

那网易邮箱的SMTP服务器是需要认证的。 在账户属性中切换到第二个属性页，然后选中“我的服务器要求身份验证”这一选项即可。还有不懂看这：http:www.sotuzi.comblogpostOutlookExpress.html补

不同温度下晶粒生长情况不同的，一般要查看烧结后晶粒状况的话，要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况，您可以用不同温度对样品进行热处理，然后分别送样，这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。不过这样做很费钱。可以考虑做差热。先用

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

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倍数就是放大率，无论什么显微镜，都是一样的。光学显微镜中常见的最大放大倍数为1000倍，因为衍射极限的存在，倍数太大并无意义，1600倍的倒是也有，一般可通过物镜油浸法增大数值孔径得到。TEM是透射电子显微镜的英文缩写，而SEM是扫描电子显

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只知道标尺无法知道放大倍数。拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。例如：尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

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sem观察金属熔覆电时出现了氖元素是正常的，在用 SEM观察时发现,熔覆层中出现黑白两层交替分层现象。通过成分分析表明,黑层组织是富这种双层组织形成过程与激光熔覆时熔池中液态金属的流动密切相关，文献 13指。SEM，EDS，XRD的区别，S

3微米。ryansterne 意思是图上与图标等长的线段的长度，用以测量图上某个区域的尺寸，电镜图片标尺3um是3微米，um微米。电镜图片标尺是标尺，就是bar，就是照片上对应的长度为1000nm.为一招透射电镜照片，在照片上对应bar的长