你说的应该是那个诺贝尔化学奖的超分辨荧光显微镜，在远场显微成像范畴，大大超越光学衍射极限，这些显微镜应用都以荧光染色为基础（只有可染色的物质才可以观察，矿物金属啥的是实现不了高分辨的）。 一个是以激光共聚焦显微镜为基础，采用双激光束，确保像

用graphpadprism做sem柱状图的方法步骤：一、第1类1.根据Table5的原始数据做柱状图。2.选择Columngraphs栏，因为该栏默认输入的都是原始数据，因此没有输入样本数的地方，只需选择数据处理类型为(Mean&

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

粒度分布表是各个不同粒度占总颗粒的含量。微分指的是单独的该粒度占的比例（%），而累积的是将前面所有粒度含量求和。可以用减法将某两个累积值相减（或者将该粒度范围的所有微分值相加），获得在该范围内的粒度所占比例（%）。根据表格可知，约440微

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

切片后腐蚀掉表面的基体，突出分散相，或者液氮脆断看剖面，电镜观察分散均匀性。看作为分散相的碳酸钙颗粒尺度，如果小于50nm，最好用场发射扫描电镜，如果大于50nm用普通钨灯丝扫描电镜即可。与基体结合好坏，看拉伸断口再做推断。一般建议，具体专

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近，SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌，但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。切片后腐蚀掉

大理石、石灰石、白垩、岩石等天然矿物的主要成分是碳酸钙。碳酸钙是一种化合物，化学式是CaCO3。CAS号 471-34-1。 它是地球上常见物质，可于岩石内找到。动物背壳和蜗牛壳的主要成份。基本上它并不溶于水。碳酸钙的组成:Ca(OH)2+

相关函数，强度涨落曲线，数据导出。给软件固定一个标尺，之后粒径通过在图上划线得到相对长度，软件会记录你划的每一个粒径的长度，给出数字数据并做出柱状分布图。粒径分布图是指不同粒径范围内的颗粒的个数（或质量或表面积）所占的比例。用origin作

热学性能上，纳米SnO2可归于一种ATO原料，其隔热机理：SnO2晶体具有正四面体的金红石结构，阴阳离子配位数为6∶3，每个锡离子都与6个氧离子相邻，每个氧离子都与3个锡离子相邻。在SnO2中掺入锑离子后，占据了晶格中Sn4+的位置，形成一

很好撒，峰很强，很清楚的阿尔法氧化铝图谱。你要分析什么东西？如果你要看是不是阿尔法氧化铝，那么它是。你可以比照标准图谱，就清楚了。最多再看看有没有其他晶型的氧化铝杂质峰。其他的估计看不出来。特别是纳米不纳米的，XRD看不出来一．抛光粉的总类

关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。 2

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近，SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌，但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。切片后腐蚀掉

关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。 2

扫描电镜检测是材料微观形貌观察必不可少的研究手段，但水凝胶材料由于含有大量水分或有机溶剂，无法直接放入电镜中观察。电镜工作需要维持高真空环境，而水分在真空中会迅速挥发，导致图像异常甚至电镜故障。因此，对于水凝胶样品，通常需要进行冷冻干燥处理

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，