数据中心运维可以分为两大类，其一是基础设施运维，其二是基础环境运维（IaaS类）下文逐步分解：一、基础设施运维：1.1机房管理方面：1.1.1机房人员出入管理（管理工具如：出入人员管理流程含出入申请审批等）1.1.2机房设备出入管理（管理工

SCADA系统通讯问题最直观的检查方法如下：查看相关的通讯设备有没有正常运行，是否断电。查看装置通讯线缆是否插好，如光纤，网线，RS485线等。观察收发设备或装置上的TX,RX有没有显烁。TX代表发送，RX代表接收，正常通讯时应该有周期

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：S

SEM的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光 从 而实现了显微 是二维的图象 会看到表面的图象的同时也看到内层物质如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光

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数据中心运维可以分为两大类，其一是基础设施运维，其二是基础环境运维（IaaS类）下文逐步分解：一、基础设施运维：1.1机房管理方面：1.1.1机房人员出入管理（管理工具如：出入人员管理流程含出入申请审批等）1.1.2机房设备出入管理（管理工

数据中心IDC（InternetDataCenter，简称IDC）是以中国电信分级的数据中心机房基础设施和电信级网络资源为基础，以专业化现场服务为保障，为满足互联网客户、政府、金融、企业客户对设备托管代维、数据中心设备托管、灾难备份及高速网

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那可不一定，上报CQI分两种，一种是所谓的wideband-cqi，就是整个带宽上报一个cqi，是个总的值，另一个就是narrowband-cqi，也就是不同的带宽分成若干个subband，分别上报，所以，cqi的具体情况跟手机实际测量到的

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我自己碰到的图像漂移有：1。样品固定不牢固，或者样品太。因此样品大小要合适，并用导电胶固定牢固。2。刚放入样品，开始观察时图像漂移较大，可等半小时左右在开始，图像漂移消除或减弱。3。样品导电性差，荷电现象导致图像漂移不清楚，可降低电压或者样

我自己碰到的图像漂移有：1。样品固定不牢固，或者样品太。因此样品大小要合适，并用导电胶固定牢固。2。刚放入样品，开始观察时图像漂移较大，可等半小时左右在开始，图像漂移消除或减弱。3。样品导电性差，荷电现象导致图像漂移不清楚，可降低电压或者样

SEM的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光 从 而实现了显微 是二维的图象 会看到表面的图象的同时也看到内层物质如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光

你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言，不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像，所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好，SEM可能

因为磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一范围。如果是热发射sem磁性

第一，样品导电，则就对比度问题；第二，样品不导电，或样品过多，或喷金量不够，这时需要喷金时间需要加长，而且样品量最好肉眼略可见即可；第三，样品放在液态导电胶中。查看原帖&gt&gt通过SEM可以观察到活性炭的表观形貌及晶

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

第一，样品导电，则就对比度问题；第二，样品不导电，或样品过多，或喷金量不够，这时需要喷金时间需要加长，而且样品量最好肉眼略可见即可；第三，样品放在液态导电胶中。查看原帖&gt&gt通过SEM可以观察到活性炭的表观形貌及晶

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰