可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。
SEM的工作原理与使用方法 :
SEM的工作原理 扫描电镜(SEM)是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。
在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。
因为空气中的污染。根据查询相关资料信息,切sem会出现c和o元素,是因一般空气中都有油脂等有机物的存在,很容易吸附到样品表面造成污染,出现c和o元素。扫描电子显微镜,SEM,是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段,其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。钾盐应该是你们采样水中含有的,钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶,钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢,也可能是硫酸钙结晶。
从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主,碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。
如果是陶氏膜的话,建议先pH13下碱洗,再pH1或者2下酸洗。
如果其他厂家的膜,请参阅厂家手册确定清洗允许的pH。
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