把这段韩文翻译成罗马拼音 急急急
楼上的是什么~？yucaeyeong-jigeum idaero ijen heeojyeoahae eumagi meomcumyeon nan nunmuldaesin useojulggeoya neoyi dwismoseubgga
怎样确定是否镀上一层sio2
要确定是否镀上一层sio2，首先要确定是否有sio2，可以通过X射线衍射仪（XRD）或者扫描电子显微镜（SEM）来检测。XRD可以检测出材料的晶体结构，以及晶体中各种元素的含量，可以确定是否有sio2。SEM可以检测出表面的结构，以及表面的
怎样确定是否镀上一层sio2
要确定是否镀上一层sio2，首先要确定是否有sio2，可以通过X射线衍射仪（XRD）或者扫描电子显微镜（SEM）来检测。XRD可以检测出材料的晶体结构，以及晶体中各种元素的含量，可以确定是否有sio2。SEM可以检测出表面的结构，以及表面的
SEM分析时,没有出现S元素,而在XRD中出现CaSO4，为啥？ 请帮助说明原因，谢谢
SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
如何提高介孔二氧化硅纳米颗粒的可降解性能
用氢氟酸除二氧化硅并不难,要点是浓度合适,温度80-85度搅拌速度合适,反应时间四个小时左右,容器必须开口,要注意防止溢锅也要注意通风如果是用焙烧的方法去除CTAB，我们一般用称重的方法，隔一段时间称一下，烧至恒重，就说明可烧去的CTAB已
SEM分析时,没有出现S元素,而在XRD中出现CaSO4，为啥？ 请帮助说明原因，谢谢
SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
怎么检验物质中含有硫酸钙？
方法一：取少量粉做一个红外光谱分析，后与硫酸钙标准谱图比较方法二：取少量粉溶于稀硝酸（粉剂不要太多），去上层清液加入硝酸钡鉴定硫酸根离子。钙离子我不太清楚，估计要用EDTA滴定SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，
怎么检验物质中含有硫酸钙？
方法一：取少量粉做一个红外光谱分析，后与硫酸钙标准谱图比较方法二：取少量粉溶于稀硝酸（粉剂不要太多），去上层清液加入硝酸钡鉴定硫酸根离子。钙离子我不太清楚，估计要用EDTA滴定SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
SEM-EDX mapping测定金属钌是什么颜色
铁或铁素体组成的银白色的，但占地小铁黑，这是因为铁的表面区域吸收可见光不是由杂质引起的。 由于有色金属，用来说。业内铁，锰和铬被称为“黑色金属”，而其它金属称为三种金属“有色金属”。二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得
SEM不能测有机物?
可以测。可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。SEM的工作原理与使用方
