如果A样品和B样品是两个单独的实验,不用做横向对比,那么用不同的制样方法没有什么问题。
如果两个样品在合成制备过程中用了不用的方法或者条件,要用SEM做横向比对,制备的结果。那么,最好用同样的制样方法。否则,即使你在SEM下看到了明显不同的结果,你也难以判断是由于SEM制样方法不同造成的,还是,由于合成制备方法不同造成的影响。
如果超声是你样品合成制备过程的一部分,因而,有必要比较超声前和超声后样品的区别。那么,对于两个平行样品,一个样品经过超声处理,一个样品直接干燥,是很合理的实验安排。可以探讨超声过程(工艺)对最终结果的影响。
总之,对于SEM仪器或者这个表征手段来说,超声或者不超声,做出来的样品,是可以放到一起观察的。问题的关键在于你想知道什么。
扫描电镜成像原理主要有两种,二次电子像(secondary electron):形貌衬度,就是你的细菌外表有凸凹形貌,可以拍摄形貌像;背散射电子探头(back scatter electron):原子序数衬度,你可以进行染色,把一些重金属的盐类设法溶进细菌体内,然后用BSE观察时,细菌就是白亮的。具体不懂的可以联系我,希望对你有帮助。
1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用,扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。
2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
3.sem是一种电子显微镜,中文名为扫描电子显微镜,通过用聚焦电子束扫描样品的表面而产生样品表面的图像。
4.它由电子光学系统、信号收集及显示系统、真空系统和电源系统组成,应用于生物、医学、材料和化学等领域。
5.扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
6.扫描电镜的优点是,有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调。
7.有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构。
8.试样制备简单。
9.目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
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