对比不同温度下样品晶粒尺寸

K为谢乐常数0.89，γ为入射X线波长0.154 nm，B为衍射峰的半峰宽，采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm，我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小，整理数据后得到表2和图2（b）.从表2和图2（b）可以看出，STO晶粒随温度上升而增大，在1 440℃时晶粒达最大，之后随温度进一步升高而降低.通过比较图2（a）、（b），可以看出用SEM统计法得到的晶粒大小普遍比用谢乐公式给出的大些，但是用谢乐法得到的结果与SEM法得到的结果具有一致的变化规律，即晶粒大小随温度的变化呈现出先增后减，达到1 400℃后快速增长.

看什么样品。

绝大多数是看不出来。

一般情况下普通SEM图不能用来证明一个材料是不是单晶。

但是如果你确定这个材料是多晶材料，可以通过SEM观察晶界。（有可能需要进行一些预处理，比如腐蚀什么的。）

对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶界和晶粒大小。对于金属材料，通过腐蚀也可以观察到晶界。对于薄膜材料，腐蚀后也可以观察晶界。

对于金属样品，有一种方法叫：电子背散射衍射。这种方法需要将样品抛光的非常平整，然后可以观察样品表面的结晶方向，不过这种方法分辨率较低。这种方法一般用来分析金属的金相组织，几乎不用来做单晶的定性分析。

坚定单晶最好的方法还是X射线衍射，方便又便宜。SEM判断是否为单晶说服力很差，不过一些样品的SEM图可以看出是否为多晶。SEM一般不作为坚定单晶的依据，如果你通过其他方法证明材料为单晶，可以用SEM图作为佐证。

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