SEM 实验

合成堇青石样品用的高铝粉煤灰和滑石粉原料及配料的微观形貌特征，采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成烧结试样的微观结构分析采用日本电子株式会社生产的 JSM-6390LV 扫描电子显微镜完成。将需要观察的样品取其新鲜断面，并用双面导电胶固定在样品台上，在离子溅射镀膜仪中喷镀一定厚度的铂金，镀膜时间设定为 30s，然后放入 SEM 样品室内进行观察，并记录样品的二次电子图像 ( 或称之为形貌像) 。

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

SEM是scanning electron microscope的缩写，中文即扫描电子显微镜，扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力，尤其是随着电子工业技术水平的不断发展，到1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来，扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，促进了各有关学科的发展。

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