EDX 点扫，面扫和mapping这三者之间有什么差别

EDX 点扫,面扫和mapping这三者之间有什么差别？

就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情况），点分析可以基本定量分析元素。

您好，EDS能谱分析面扫描不是随机选区域，而是根据特定的目的和要求，结合分析者的经验和专业知识，选择最合适的区域进行扫描。EDS能谱分析面扫描的目的是为了获取样品的元素成分分布，以及探索样品的结构和组成。因此，在选择扫描区域时，需要考虑样品的特性，以及分析者的经验和专业知识，以便选择最合适的区域进行扫描，以获得最准确的结果。

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