求指导怎么分析氧化石墨烯基膜的扫描电镜图

求指导怎么分析氧化石墨烯基膜的扫描电镜图,第1张

原子力显微镜表征石墨烯的什么性质

当然是原子力显微镜AFM,看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然,AFM表征的时候应注意区分灰尘、盐类和石墨烯分子。

当然光学显微镜、扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像,可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。

通过物理或化学修饰方法能够抑制石墨烯的团聚已经被证实,使溶剂分子或表面活性剂分子吸附在石墨烯表面,利用经典斥力和分子间的作用力实现单层石墨烯的分散将石墨烯均匀分散在有机溶剂或表面活性剂的水溶液中。还可以采用一些表面改性和其他的方法来提高石墨烯的分散性,但在生成复合材料时引入的杂质是否影响复合材料性能还有待研究


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