潜变量模型的类型近年来，潜变量分析模型领域最重要的革新是将连续型潜变量和类别型潜变量整合到一个模型中即混合模型(Hybrids Model, Muthén, 2008)。表1根据连续-类别潜变量和横断面-纵向研究设计将潜变量模型划分为不同的

10nm非常小了，一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有，SEM是二次电子成像，由于二次电子的产额随原子数的变化不大，所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这

潜变量模型的类型近年来，潜变量分析模型领域最重要的革新是将连续型潜变量和类别型潜变量整合到一个模型中即混合模型(Hybrids Model, Muthén, 2008)。表1根据连续-类别潜变量和横断面-纵向研究设计将潜变量模型划分为不同的

SEM就是观察表面形貌的一种方法。对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整，不能有明显的缺

一万倍。石墨烯放大1万倍下所得二次电子图像，能够清楚看到其整体形貌，及显著地表。石墨烯是从石墨中提取出来的材料，最初是从中分离出来的，它是一种极其导电的元素碳形式，由单个平坦的碳原子片排列成重复的六角形晶格构成。电子显微镜分为扫描电镜和透射

SEM就是观察表面形貌的一种方法。对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整，不能有明显的缺

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如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法可以观察。需要你将你的样品进行抛光，

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计

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可以观察。需要你将你的样品进行抛光，最好再做一个横断面的抛光试样，这样在表面和横断面都可以观察。放大倍数需要样品进入SEM后具体观察，放大倍数不是问题。估计只需要很小的放大倍数，1000倍左右没什么问题PCB制造中有几种不同的表面处理，客户

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计

可以观察。需要你将你的样品进行抛光，最好再做一个横断面的抛光试样，这样在表面和横断面都可以观察。放大倍数需要样品进入SEM后具体观察，放大倍数不是问题。估计只需要很小的放大倍数，1000倍左右没什么问题想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于

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10nm非常小了，一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有，SEM是二次电子成像，由于二次电子的产额随原子数的变化不大，所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这

可以观察。需要你将你的样品进行抛光，最好再做一个横断面的抛光试样，这样在表面和横断面都可以观察。放大倍数需要样品进入SEM后具体观察，放大倍数不是问题。估计只需要很小的放大倍数，1000倍左右没什么问题想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法不是。SEM对样品的要求。1、不会被