SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将

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1、高真空环境是分子流，湿的样品不断释放水蒸气，使高真空情况下，真空度很难上升，往往达不到比较优越的条件。2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应，会加速电子枪灯丝挥发，极大降低灯丝寿命。3、对电子束的散射，会造成信号损失4、污染样品关键看你

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电镜的原理是：电子枪发出电子束打到样品表面，激发出二次电子、背散射电子、X-ray等特征信号，经收集转化为数字信号，得到相应的形貌或成分信息。测试注意事项：1、新人找别人帮忙测试时，明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，然后跟测试相

电镜的原理是：电子枪发出电子束打到样品表面，激发出二次电子、背散射电子、X-ray等特征信号，经收集转化为数字信号，得到相应的形貌或成分信息。测试注意事项：1、新人找别人帮忙测试时，明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，然后跟测试相

1、高真空环境是分子流，湿的样品不断释放水蒸气，使高真空情况下，真空度很难上升，往往达不到比较优越的条件。2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应，会加速电子枪灯丝挥发，极大降低灯丝寿命。3、对电子束的散射，会造成信号损失4、污染样品扩散泵温

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不需要吧，不过这种方法貌似误差比较大，最直观的就是做透射电镜，然后用image j统计比较准确~~ 可是我觉得报告里的粒径不大正确，而且测试的老师也说让我自己计算，一起计算的不准确！fangxingbaixue(站内联系TA)我们做了以后发