做SEM形貌观察发现所测C含量和所给的成分不一样。这个应该如何解释？
这里面有几个问题：1、钢的整体的碳成分是多少并不表示任何一点的碳成分均是这个数字，钢里有贫碳相如铁素体，也有富碳相如渗碳体，打在不同的部位得数也不一样；2、碳是轻元素，成分测量的误差本来就较大；3、eds本身的精度不高，只做定性分析之用，不
如何检测钢铁中的非金属夹杂物？
钢铁中非金属夹杂物的检测方法一直在变化，早期的工作者主要用光学显微镜配合X射线结构分析和化学成分分析，积累了宝贵的经验和丰富的资料。近年来，采用电子探针对夹杂物进行微区成分分析日益增多。目前鉴定夹杂物的大致方法有以下两种。1、金相法与微区域
哪位大神可以清楚的告诉我SEM，EDS，XRD的区别以及各自的应用
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子
反渗透膜有机物污染原因分析:主要污染物SEM+EDX灰分分析K、Si、Ca；预处理采用多介质过滤器及超滤过滤。
钾盐应该是你们采样水中含有的，钾盐不会导致结垢。硅结垢就是二氧化硅形成的结晶，钙可能是碳酸钙沉积、氟化钙结垢，也可能是硫酸钙结晶。从此状况分析应该是以二氧化硅结晶体为主，碳酸钙沉积次之。当然水中硫酸根很高的话也可能会是硫酸钙结晶。如果是陶氏
sem扫描电镜是测什么的
SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观
SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。你说的厚度如果用SEM只能
金属试样做SEM和EDS之前需要侵蚀吗？
如果你只是做金属材料中的夹杂等成分，可以不用侵蚀，直接使用背散射观察，然后用EDS进行成分分析；如果你需要看材料的基本组织，第二相等，需要侵蚀，然后SEM观察，同时可在感兴趣的位置进行EDS，包括点、线、面的成分分析。关键在于你在晶界想观察
SEM的主要用途是什么
SEM的主要用途是：1、带来更多的点击与关注；2、带来更多的商业机会；3、树立行业品牌；4、增加网站广度；5、提升品牌知名度；6、增加网站曝光度；7、根据关键词，通过创意和描述提供相关介绍。SEM：英文为Search Engine Mark
sem能谱有哪些元素测不了
具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一
EDS面扫成分分布图在哪里找
EDS分布图完成后会自动出来结果。面扫描是反映元素在样品表面的分布状态的手段。一张图代表某一个元素的分布，可以用不同的颜色来表示，越亮的地方就代表该元素的含量越高。也可以几张图混合起来，也可以跟电镜图像叠加。每个图谱中都有亮点和黑暗的地方，
哪位大神可以清楚的告诉我SEM，EDS，XRD的区别以及各自的应用
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子
SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。SEM描电镜主要应用于微观
我做的薄膜SEM与XRD试验，图片与数据不会分析，跪求准确分析？
不同很正常，因为可能你的样品不是均一的，导致差异。这个SEM测试的是particle不是grain size！谢乐公式可以用，因为不超过几百纳米。你不懂得太多，建议上小木虫多多充电！这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里
SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。针对怎么用SEM看薄膜截断
SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。XRD可以做定性，定量分析
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这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。扫描电镜是可以用来看看那个
cpe抗衰冻干原液是什么
cpe抗衰冻干原液是什么cpe抗衰冻干原液是什么？女性25岁以后就开始抗衰老，砸在护肤品上的钱很多，让人们以为抗衰老护肤品都很贵，但其实cpe抗衰冻干原液就不贵，下面讲讲cpe抗衰冻干原液是什么。cpe抗衰冻干原液是什么1
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SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观
金属试样做SEM和EDS之前需要侵蚀吗？
如果你只是做金属材料中的夹杂等成分，可以不用侵蚀，直接使用背散射观察，然后用EDS进行成分分析；如果你需要看材料的基本组织，第二相等，需要侵蚀，然后SEM观察，同时可在感兴趣的位置进行EDS，包括点、线、面的成分分析。完全不可行！对于做腐蚀
