其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。1、放大率：与普通光学显微镜不同，

观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。1、放大率：与普通光学显微镜不同，

干法和湿法使用的理论依据不同：1、干法：硅胶内部的孔径是干的，不能利用内部的表面积，所以负载量较小，需要材料较多2、湿法：硅胶内部的孔径是湿的，可以充分利用内部的表面积，所以负载量较大，节省材料在实际应用中：1、干法装柱快，但是细硅胶上柱时

问题不详。。粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒

一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。特点是可以测试1

sem模型中，较高的数值表明模型的效果越好，但这也取决于你要求的结果。如果你要求模型必须具有准确性，那么高数值就是至关重要的因素。但是，如果你要求简单、容易理解，那么低数值就是更合适的选择。是的。mapping就是扫描每个点，然后把每个点得

sem模型中，较高的数值表明模型的效果越好，但这也取决于你要求的结果。如果你要求模型必须具有准确性，那么高数值就是至关重要的因素。但是，如果你要求简单、容易理解，那么低数值就是更合适的选择。是的。mapping就是扫描每个点，然后把每个点得

SEM主要优势是观察粗糙的原始表面，一般无需对样品表面进行特殊处理，在微区属于无损分析。如果看金相，需要从形状形貌上来鉴别是什么相，肯定需要腐蚀，因为SEM成像，需要有确切的形貌存在，例如镜面抛光后，图像没有形貌反差，也就无从鉴定相。有时候

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

不需要吧，不过这种方法貌似误差比较大，最直观的就是做透射电镜，然后用image j统计比较准确~~ 可是我觉得报告里的粒径不大正确，而且测试的老师也说让我自己计算，一起计算的不准确！fangxingbaixue(站内联系TA)我们做了以后发

问题不详。。粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求，但是仍然有一部分同学不太清楚，今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家！SEM测试样品要求如下：1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

研究了添加剂及分散剂对二钼酸铵粒度及分布的影响。结果表明，通过添加剂的加入，大大改善了生成颗粒的性能。随着添加剂加入量的增加，粗晶粒数量增加，但分布较差，通过加入分散剂，解决了分布上的双峰问题。分析表明，控制二次成核是结晶过程中重要的操作要

1、比例尺计算公式：图上距离=实际距离×比例尺，实际距离=图上距离除以比例尺，比例尺=图上距离除以实际距离.在比例尺计算中要注意单位间的换算。2、比例尺求法举例：图上2厘米表示实际300千米，可以这样求比例尺2厘米比300千米=2厘米比30

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分