介孔材料是指孔径在2-50nm 的一类多空材料.介孔硅大多指的是具有2-50nm孔径的无定形氧化硅材料.这类材料是1992年首先由mobil公司首先以CTAB(十六烷基三甲基溴化铵)为模板剂,结合溶胶凝胶法合成的代号为MCM-41的材料.孔

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布； 2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据； 3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。SEM数

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

这些方法包括气体吸附法、压汞法、电子显微镜法（SEM 或 TEM）、小角 X 光散射（SAXS）和小角中子散射（SANS）等。2010年，美国分散技术公司（DT）和美国康塔仪器公司还联合开发了电声电振法，比利时 Occhio 公司开发了图像

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器

超滤膜孔径的测定微孔滤膜的孔径分离效率是关键所在，所以评价滤膜孔径甚为重要。目前大致采用以下方法：一、直接测量法1.直接法测膜孔径（1）电子显微镜扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）电子显微镜表征膜的孔径、孔径分布及膜的形态结构

为什么要用sem测定活性炭孔结构活性炭作为一种优良的物理、化学吸附剂，越来越受到人们的重视。随着活性炭用途的增加，活性炭的检测方法也越来越多。但不同的检测方法有可能会产生不同的性能指标。给活性炭行业之间的信息交流带来困难，同时也给活性炭的出

sem做数据分析时要先对比数据，通过对比发现问题，再通过收集数据来找出问题。从计划、单元再到关键词，一步一步细化数据，最后落实到具体操作上，解决问题。1.日消费数据分析这个日消费报表一般有日消费报表，周消费报表，月度消费报表组成。表中包含

限制透镜或光学系统装置光孔的(如带孔的板)。光阑光圈快门。在做扫描电子显微镜（SEM）测试时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学对SEM测试不太了解，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

````应该是景深吧``焦深计算公式L= ±[(rM)-d]2α其中：L: 焦深r: 显像管最小分辨距离M：放大倍数d：入射电子束直径 2α：物镜孔径角。从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布； 2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据； 3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。测量孔径

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布； 2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据； 3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。超滤膜孔

1．右手握住镜臂，左手托住镜座。 2．把显微镜放在实验台上，略偏左（显微镜放在距实验台边缘7厘米左右处）。安装好目镜和物镜。 二、对光 3．转动转换器，使低倍物镜对准通光孔(物镜的前端与载物台要保持2厘米的距离)。 4．把一个较大的光圈对准

nanopowders(站内联系TA)激光粒度是一个统计数据，可能会是单颗粒和团聚体的表现，而电镜粒度一般都是统计单个颗粒，除非你的颗粒在溶液中的分散性能很好，形成类似于单分散的浆液，这样二者才会很接近，不然测试的激光粒度都要大于电镜粒度，

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素