扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

扫描电镜成像原理主要有两种，二次电子像(secondary electron)：形貌衬度，就是你的细菌外表有凸凹形貌，可以拍摄形貌像；背散射电子探头(back scatter electron)：原子序数衬度，你可以进行染色，把一些重金属的

扫描电镜没办法分辨，SEM只是用来对sample做形貌分析的，需要加上EDSWDS才可以用来做成分分析。本来BSE可以用来分辨原子序数差别较大的元素，不过Mg和Al靠太近，也没办法分别啊。镁合金金相分析应该是很简单的。因为镁合金的组成相相

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图扫描电镜成像原理主要有两种，二次电子像(secondary

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

特点及应用：二次电子像具有分辨率高、景深大；立体感强的特点， F≈ d0β主要用于反映样品表面形貌。背散射电子像具有分辩率低、背散射电子检测效率低，衬度小的特点，主要用于反映原子序数衬度。这个问题比较奇怪，背散射是一种分析手段，主要显

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

楼主如果基体必须是不导电玻璃，如不能喷金，可以喷碳，这可以消除荷电问题，不妨碍形貌观察。如果不能喷涂导电膜，就得升级您使用的仪器：使用具有更高的低电压性能扫描电镜，玻璃水平放置，低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件，或者玻

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

进行元素分析的信号主要是作用区发射的元素特征X射线，俄歇电子，阴极荧光，背散射电子等，特征能量损失电子。SEM 常常使用：EDS，WDS 分光特征X射线；俄歇电子需要超高真空环境，往往以俄歇电子谱仪的商品出现，也可归入扫描电镜范畴；背散

扫描电镜成像原理主要有两种，二次电子像(secondary electron)：形貌衬度，就是你的细菌外表有凸凹形貌，可以拍摄形貌像；背散射电子探头(back scatter electron)：原子序数衬度，你可以进行染色，把一些重金属的

扫描电镜成像原理主要有两种，二次电子像(secondary electron)：形貌衬度，就是你的细菌外表有凸凹形貌，可以拍摄形貌像；背散射电子探头(back scatter electron)：原子序数衬度，你可以进行染色，把一些重金属的

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

1.倾斜角效影响图像因素由于二次电子的发射是入射电子碰撞样品的海外电子，使原子外层受激发而电离出来的电子， 且电子在逸出样品表面之前又和样品进行多次散射，所以只要在样品浅层几纳米到几十纳米组偶偶深度区域产生的二次电子才能逸出表面，被探测器收